跨越RFID测试挑战"三重门"，加速物联网产业发展

　　RFID的测试分为研发测试（读写器实验室研发、系统开发和验证）、现场测试（系统调试、电磁环境评估、干扰查找和定位、数据采集）和认证测试（RFID标准一致性测试、系统互通性测试 ）三个阶段。

　　泰克公司提供的RFID测试解决方案——RTSA和混合域分析仪及示波器MDO在研发测试阶段所能发挥的作用分为以下三个方面：1.读写器设备的Troubleshooting：如进行读写器信号实时频谱分析（频率、功率、调制带宽等），调制质量分析，瞬态噪声分析，跳频捕获和调制质量分析，时序测量，命令测试等；2.标签测试：灵敏的触发设置，捕获低调制深度标签信号，时序测量，频谱测试，负载调制能量和质量；3.分析和评估读写器与标签互通特性：实时频谱分析（同频频谱分析），时序测量，碰撞分析，标签调制回波质量分析。

　　泰克RTSA可以在一台仪表中同时获得宽带矢量信号分析仪、频谱分析仪功能，并具备独有的触发-捕获-分析能力，可以轻松应对所有RFID应用中瞬变信号的捕获。频率达到8GHz，适合RFID所有频段要求；高达85MHz分析带宽，可满足所有RFID标准测试。其专利的DPX实时频谱技术，实现292，000频谱/秒更新速度。而超长记录时间，能够记录完整的RFID交互过程。

　　RTSA具有灵活的频率模板触发器（FMT），为可靠地检测和分析动态RF信号提供了一个强大的工具。它还可以用来进行传统频谱分析仪不可能完成的测量，如在存在强大的RF信号时捕获小电平瞬时事件，在拥挤的频谱范围内检测特定频率上的间歇性信号。分析仪在检测到触发事件时，能够把触发前和触发后的数据保存到内存中。一旦信号已经采集并存储在内存中，可以使用RTSA 中提供的各种时间相关视图分析信号，这种时间相关的多域分析功能提供了巨大的灵活性，可以使用各种分析工具，放大和全面检定采集的RF信号的不同部分。

　　至于混合域示波器MDO4000系列在RFID研发测试中的用武之地，曾志指出，一个典型的RFID读写器系统由基带电路、射频电路、电源和接口电路等组成。除了RF部分可以使用MDO的RF测试功能进行测试外，基带电路中的大量总线信号如SPI总线、并行总线、UART或USB或Ethernet总线的系统调试，MDO可以通过增加总线解码模块的方法提供。系统中还包括DC/DC或AC/DC电源电路，以及电源管理功能模块。DPO4PWR提供了全面完善的电源设计调试方案。如果用户还有FPGA调试的需求，FPGAView可以提供基于MDO4000平台的FPGA调试工具。

　　对于RFID现场测试，曾志总结了泰克RTSA方案的优势和特点是：1.高性能频谱测量+多域分析；2.超宽捕获带宽，使用所有RFID信号要求；3.长时间IQ数据保存，实现现场数据采集。

　　对于要求更多、更为严格的RFID认证测试主要指一致性测试和互通性测试，具体涉及：射频参数测试（频域、时域、调制域）、标准符合性测试（法规符合性、调制质量 EVM、调制度等）、解码；真实环境下抗干扰能力、密集环境下的防碰撞和交互性等。产品的测试与认证是RFID产业链各方均需要的，通过测试认定可以建立起有关产品的规格与品质的基本规范，从而降低人们认识产品的复杂性，同时也建立起一种信誉体系。

　　泰克的RTSA可提供专业的RFID认证测试软件（选件21），提供了目前业界最全面的标准支持，支持自定义RFID标准测试，集成的DPX技术可实现RFID系统互通性测试。据曾志介绍，基于泰克实时信号分析仪的RFID认证测试系统是EPC GLOBAL 指定的认证测试系统，并为国内多家认证机构所采用，如CESI/GS1。